5 層(4 鍍層+ 基材) / 24 元素/ 共存元素校正;
組成成分分析時可同時測定24 種元素;
元素光譜定性分析;
基材分析
X-ray 接收器:數字半導體接收器
測量精度:3%或±5%μm 依照參考標準片
聯系人:舒翠 136 0256 8074
電話:0755-29371655
傳真:0755-29371653
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